注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
测试样品:太阳电池用硅单晶
导电类型,径向电阻率变化,晶体完整性,晶向及晶向离度,氢含量,氩含量,电阻率,直径,碳含量,表面质量测试
测试周期:7-15个工作日,试验可加急
CECC 90 105 ISSUE 2-1986空白详细规范:双极熔丝式可编程只读存储器,硅单晶集成电路(英,法) 第1次修订(英,法) 第2次修订(英,法)
CECC 90 202- 001 ISSUE 1-1988BS CECC 90 202-001:硅单晶集成电路 超低噪音精密运算放大器(英)
CECC 90 202- 003 ISSUE 1-1987BS CECC 90 202-003:硅单晶集成电路 低噪音精密DIFET运算放大器(英)
DIN 50440-1998半导体材料检验.用光导衰减法测定硅单晶复合载流子寿命;在杆上试件上测量
GB/T 1551-2021硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
GB/T 1557-2018硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
GB/T 11073-2007硅片径向电阻率变化的测量方法
GB/T 12962-2015硅单晶
GB/T 12964-2018硅单晶抛光片
GB/T 12965-2018硅单晶切割片和研磨片
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(太阳电池用硅单晶测试)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。