注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试望见谅。
检测样品:混合集成电路
剪切强度,键合强度,扫描电子显微镜(SEM)检查,粒子碰撞噪声检测(PIND),密封,内部目检,键合强度,扫描电子显微镜(SEM)检查,电流调整率S1,外部目检等
检测周期:7-15个工作日,试验可加急
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考,因为每个样品和项目都有所不同,所以最终以工程师告知的为准。
3.关于(样品量)的需求,最好是先咨询我们的工程师确定,避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右,部分样品有所差异
5.如果对于(混合集成电路检测)还有什么疑问,可以咨询我们的工程师为您一一解答。
上一篇: 室内用微波多普勒探测器检测
下一篇: 轻武器光电瞄准镜检测