注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
检测样品
固体继电器固体继电器(0702)
实验周期
7-15个工作日，加急实验一般5个工作日
检测项目
静电放电扫描电子显微镜检查电性能终测关断电压标志端子的机械性能和电气性能抗非正常热和着火危险试验内部目检绝缘电阻键合强度工频磁场机械冲击或恒定加速度输出电压降非破坏性键合拉力外部目检电气间隙、爬电距离内部气体成份分析介质耐电压输出漏电流目检及机械检查浪涌非正常条件下开关元件的接通和分断能力关断时间温度循环电快速瞬变/脉冲群输入电流接通时间老炼前电测试粒子碰撞噪声测试（PIND）剪切强度温升耐久性试验负载条件试验老炼密封功耗粒子碰撞噪声检测（PIND）介电性能耐湿热性能密封前老炼接通电压用于控制电器的半导体开关元件的附加要求正常条件下开关元件的接通和分断能力电压骤降和中断X射线检查密封
检测标准
低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 8.4.2.1
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.9
军用电子元器件筛选技术要求 GJB 7243-2011 12.4
固体继电器总规范 GJB1515B-2017 4.7.7.2.7
低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 5.2
低压开关设备和控制设备 第1部分：总则 GB/T 14048.1-2012 8.2.4
低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 7.1.2
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.8
低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 8.4.2.6
固体继电器总规范 GJB1515B-2017 4.7.7.15
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.2
低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 7.1.3
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.6
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.11节
低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 :8.4.2.4，附录H.8.7.2.4
低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 8.3.3.5.3
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.7节
低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 8.4.2.3
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.4节
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.5节
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.8节
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.4
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.10
低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 8.3.3.3
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.10节
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.7
低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 附录C
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.12节
低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 8.3.3.4
低压开关设备和控制设备 第1部分：总则 GB/T 14048.1-2012 附录K
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.6节
低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 附录H.8.2-H.8.4
固体继电器通用规范 GJB 1515B-2017 /4.7.7.5节
低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 8.3.3.5.2
低压开关设备和控制设备 第5-1部分：控制电路电器和开关元件 机电式控制电路电器 GB/T 14048.5-2017 8.4.2.7
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.3
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 2.5
以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师
实验仪器
测试流程
注意事项
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。
3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异
5.如果对于（固体继电器检测）还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。
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服务保障 一对一品质服务
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定制方案 提供非标定制试验方案
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全国取样/寄样 全国上门取样/寄样/现场试验
