注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。
检测样品
半导体集成电路模拟开关模拟开关半导体集成电路（模拟开关）
实验周期
7-15个工作日，加急实验一般5个工作日
检测项目
导通电阻 RON导通电阻导通电阻路差稳定性烘焙静态条件下的电源电流输入低电平电流 IIL导通态漏电流通道转换时间导通电阻路差 △RON开启时间截止态漏极漏电流截止态源极漏电流电源电流温度循环关断时间模拟电压工作范围导通电阻路差率输入高电平电流输出低电平电压 VOL输入高电平电流 IIH导通电阻温度漂移率逻辑端输入电流输出高电平电压 VOH输入低电平电流开启时间
检测标准
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992 2.2
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.2
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.3
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 4
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 2
《半导体集成电路模拟开关测试方法》 GB/T 14028-2018 第5.6条
半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 5.9
半导体器件集成电路第3部分 模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第IV篇 第4节
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992 2.3
《半导体集成电路模拟开关测试方法》 GB/T 14028-2018 第5.7条
半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 5.3
半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 5.4
半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 5.5
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.6节
半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 5.2
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第III篇第6节 5.1.1
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1010.1
半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 5.8
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.1节
半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 5.6
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.16节
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T 17574-1998 方法38
《半导体集成电路模拟开关测试方法》 GB/T 14028-2018 第5.4条
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 GB/T 17574-1998 方法41
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998 第Ⅳ篇 第2节 1
《半导体集成电路模拟开关测试方法》 GB/T 14028-2018 第5.5条
《半导体集成电路模拟开关测试方法》 GB/T 14028-2018 第5.8条
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.4
半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 5.7
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.3节
《半导体集成电路模拟开关测试方法》 GB/T 14028-2018 第5.2条
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.4节
半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 5.17
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.5
《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第IV篇》 GB/T 17574-1998 第2节第2条
《半导体集成电路模拟开关测试方法》 GB/T 14028-2018 第5.3条
《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 第IV篇》 GB/T 17574-1998 第2节第4条
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.5节
半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 5.16
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-2018 5.2节
半导体集成电路模拟开关测试方法 GB/T 14028-2018 5.7
以上标准仅供参考，如有其他标准需求或者实验方案需求可以咨询工程师
实验仪器
测试流程
注意事项
1.具体的试验周期以工程师告知的为准。
2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。
3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。
4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异
5.如果对于（半导体集成电路模拟开关检测）还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。
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