场效应晶体管测试

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注意：因业务调整，暂不接受个人委托测试望见谅。

测试样品：场效应晶体管

测试项目

漏-源(直流)电压，栅漏(直流)电压，漏极(直流)电流，漏极峰值电流，漏极反向(直流)电流，漏极反向峰值电流，反偏安全工作区，短路安全工作区，重复雪崩能量，非重复雪崩能量，击穿电压，漏极漏电流，开关时间，开通能量，关断能量，栅极电荷，输入电容，输出电容，反向传输电容，栅极内阻，结-壳瞬态热阻抗和热阻，高温阻断(HTRB)，间歇工作寿命(负载循环)

测试周期：7-15个工作日，试验可加急

测试标准

半导体器件-分立器件-第8部分: 场效应晶体管 IEC60747-8Ed.3.0b:2010

半导体器件-分立器件-第8部分: 场效应晶体管 GB/T4586-94IEC60747-8Ed.3.0b:2010

二极管测试

绝缘栅双极晶体管测试

半导体器件测试

实验仪器

测试流程

注意事项

1.具体的试验周期以工程师告知的为准。

2.文章中的图片或者标准以及具体的试验方案仅供参考，因为每个样品和项目都有所不同，所以最终以工程师告知的为准。

3.关于（样品量）的需求，最好是先咨询我们的工程师确定，避免不必要的样品损失。

4.加急试验周期一般是五个工作日左右，部分样品有所差异

5.如果对于（场效应晶体管测试）还有什么疑问，可以咨询我们的工程师为您一一解答。